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“顕微鏡検査、分光解析などの不良解析のための分析サービスをご提供します。テストウェハを用いた基礎データ取得の他、デバイス特性の比較、信頼性データ取得など、どのようにしたら良い特性が得られるか、インテグレーションの解をご提供します。”
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“顕微鏡検査、分光解析などの不良解析のための分析サービスをご提供します。テストウェハを用いた基礎データ取得の他、デバイス特性の比較、信頼性データ取得など、どのようにしたら良い特性が得られるか、インテグレーションの解をご提供します。”
